數(shù)字絕緣電阻測試儀量程及精度：
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測量功能
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輸出電壓
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測量范圍
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精度
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分辨率
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絕緣電阻
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100V(±20%)
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0～20MΩ
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±3%rdg±5dgt
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0.01MΩ
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20～200MΩ
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0.1MΩ
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200～100MΩ
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1MΩ
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250V(±20%)
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0～20MΩ
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±3%rdg±5dgt
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0.01MΩ
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20～200MΩ
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0.1MΩ
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200～250MΩ
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1MΩ
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500V(±20%)
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0～20MΩ
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±3%rdg±5dgt
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0.01MΩ
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20～200MΩ
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0.1MΩ
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200～500MΩ
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1MΩ
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1000V(±20%)
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0～20MΩ
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±3%rdg±5dgt
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0.01MΩ
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20～200MΩ
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0.1MΩ
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200～1000MΩ
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1MΩ
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2500V(±20%)
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0～2000MΩ
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±3%rdg±5dgt
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1MΩ
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2000MΩ～20GΩ
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±5%rdg±10dgt
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0.01GΩ
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20GΩ～200GΩ
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±10%rdg±10dgt
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0.1GΩ
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測量功能
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測量范圍
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精度
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分辨率
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直流電壓
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DC 0.0V～1000V
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±1.5%rdg±3dgt
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0.1V
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交流電壓
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AC 0.0V～750V
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±1.5%rdg±3dgt
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0.1V
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極化指數(shù)（PI）和吸收比(DAR)
7.1極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）作用：
極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）是檢查絕緣體的泄漏電流的時(shí)間是否增加的試驗(yàn)。確認(rèn)施加時(shí)間的同時(shí)泄漏電流沒有增加。儀表自動(dòng)計(jì)算極化指數(shù)PI和吸收比DAR值，作為判斷絕緣性能的判斷，極化指數(shù)PI和吸收比DAR都表示被測物承受測量電壓后一段時(shí)間內(nèi)絕緣電阻的變化情況。
7.2極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）區(qū)別：
對(duì)于一般的絕緣體測試，如外殼絕緣、工具手柄等一般在較短時(shí)間能測試出隨施加電壓時(shí)間增加漏電流是否增加情況，所以一般用較短時(shí)間的試驗(yàn)就能測試出來，數(shù)字絕緣電阻測試儀廠家短時(shí)間測試的絕緣電阻比值DAR稱為吸收比（具體測試時(shí)間見下面公式），但對(duì)于大容量和吸收過程較長的被測品，如變壓器、發(fā)電機(jī)、電纜、電容器等電氣設(shè)備，有時(shí)吸收比值（DAR）尚不足以反映吸收的全過程，可采用較長時(shí)間的絕緣電阻比值，即10分鐘時(shí)的絕緣電阻(R10min)與l分鐘時(shí)的絕緣電阻(R1min)的比值PI來描述絕緣吸收的全過程，PI稱為極化指數(shù)。
